模塊測試中還有一個重要的測試—時序測試。參考MSA的標(biāo)準(zhǔn)，基本的時序包括以下幾個Ton/Toff,LOS_A ,LOS_D ,fault等。如下：

   今天說一下LOS timing的測試。

     LOS timing 是測量LOS跳變的時間，LOS_Assert Time是有光到無光時到LOS跳變?yōu)楦叩臅r間，LOS_Deassert Time為無光到有光的時候，LOS從高到低的跳變時間。測試架構(gòu)如下。

注意事項：

1. LOS 分為AC LOS 和DC LOS ，測試AC LOS的時候光源需要加調(diào)制信號

2.測試需要考慮O/E convert 的轉(zhuǎn)換時間，一般會比較快

3.光源可外接或者自環(huán)。

4.測試timing 的時候通常在靈敏度附近測試，但是也需要看飽和時候的值。很多TIA在飽和時候會有一個glitch的信號，會造成飽和時候的LOS timing超規(guī)格。可以利用主芯片的一些補償功能或者其他的方式加以規(guī)避。

5.測試LOS timing超規(guī)格的時候要注意看LOS的外圍是否有電容，AC LOS看LOS 外是否有電容，DC LOS的話需要看源信號RSSI的外圍電路，如果濾波電容過大會影響LOS的 timing

6.LOS 通常是LA自帶的功能，如果LA不能實現(xiàn)，但有的時候LA只能實現(xiàn)AC，無法實現(xiàn)DC，這樣RSSI需要接入到MCU進行處理，最好通過比較器來實現(xiàn)，以保證LOS的時序

7.如果沒有O/E convert，通常的做法就是通過Tx disable 來控制光源，測試Tx disable電平的轉(zhuǎn)換到LOS的電平轉(zhuǎn)換的時間，這個時間就是Ton/off+LOS on/off的時間，

8. OLT的LOS時序更為復(fù)雜，與Reset信號也相關(guān)，后續(xù)專門做解釋。

    下圖為一個常規(guī)的LOS_on，LOS_off的測試圖形，供參考。[敏感詞]為光信號，青色為LOS信號